HOME > 口頭発表 > 書誌詳細TOF中性子回折法によるLu4Si2O7N2 の構造解析(Structure analysis of Lu4Si2O7N2 by TOF neutron diffraction)高橋純一, 山根久典, 島田昌彦, 山本吉信, 廣崎 尚登, 西村 聡之, 三友護, 及川健一, 鳥居周輝, 神山崇, 高橋純一, 山根久典, 島田昌彦, 山本吉信, 三友護, 及川健一, 鳥居周輝, 神山崇. 第14回秋季シンポジウム. 2001年09月26日-2001年09月28日.NIMS著者廣崎 尚登西村 聡之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:22:29 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:17:48 +0900