査型光電子顕微鏡”3D nano-ESCA”を利用した機能性微小クラスターのピンポイント分析とそのオペランド分析への展開
(Operando and pin-point analysis of functional nanomaterials using a high spatial resolution scanning photoelectron microscopy with synchrotron radiation soft X-rays)
物性研短期研究会「光で 見る・操る 電子物性科学の最前線〜強. 2017. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-06-02 22:18:45 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:06 +0900