HOME > Presentation > Detail査型光電子顕微鏡”3D nano-ESCA”を利用した機能性微小クラスターのピンポイント分析とそのオペランド分析への展開(Operando and pin-point analysis of functional nanomaterials using a high spatial resolution scanning photoelectron microscopy with synchrotron radiation soft X-rays)永村 直佳. 物性研短期研究会「光で 見る・操る 電子物性科学の最前線〜強. June 12, 2017-June 14, 2017. InvitedNIMS author(s)NAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-06-02 22:18:45 +0900Updated at: 2024-03-05 12:20:06 +0900