HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ウェッジ法による窒化物半導体のTEM試料作製(Sample preparation of GaN based materials using a wedge polishing technique)奥野 華子, 竹口 雅樹, 三石 和貴, 古屋 一夫. JSM'07. 日本顕微鏡学会第63回学術講演会. 2007.NIMS著者竹口 雅樹三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:02:22 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:55:16 +0900