SIMS DEPTH PROFILING OF N AND In IN ZnO SINGLE CRYSTAL
(酸化亜鉛単結晶中の窒素のインジウムのSIMSの深さ方向プロファイル)
13th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. 2001年11月11日-2001年11月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 02:28:18 +0900 更新時刻: 2023-04-09 15:22:44 +0900