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酸化中のシリコン表面のストレス測定
(Stress measurements of the silicon surface during oxidation )

北島 正弘, 板倉 明子, 成島哲也, 成島哲也.
第18回表面科学ヨーロッパ会議. 1999.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-01-08 04:08:28 +0900更新時刻: 2017-07-10 17:58:27 +0900

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