SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > Presentation > Detail

酸化中のシリコン表面のストレス測定
(Stress measurements of the silicon surface during oxidation )

北島 正弘, 板倉 明子, 成島哲也, 成島哲也.
第18回表面科学ヨーロッパ会議. 1999.

NIMS author(s)


Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at: 2017-01-08 04:08:28 +0900Updated at: 2017-07-10 17:58:27 +0900

    ▲ Go to the top of this page