HOME > Presentation > Detail酸化中のシリコン表面のストレス測定(Stress measurements of the silicon surface during oxidation )北島 正弘, 板倉 明子, 成島哲也, 成島哲也. 第18回表面科学ヨーロッパ会議. 1999.NIMS author(s)ITAKURA, AkikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:08:28 +0900Updated at: 2017-07-10 17:58:27 +0900