Utilization of Scanning SQUID Microscopy for Characterization of Superconducting Thin Films
(走査SQUID顕微鏡による超伝導薄膜評価法)
The 21st Annual International Conference on composite/nano engin. 2013年07月21日-2013年07月27日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 14:09:01 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:44:30 +0900