HOME > 口頭発表 > 書誌詳細In-situ DLTS measurement of metastable coupling between proton-induced defects and impurities in n-si(n-si中の不純物と陽子線照射による欠陥の準安定結合のその場DLTS測定)KONO, Kenichiro, 岸本直樹, AMEKURA, Hiroshi, 岸本直樹. MRS 1997 Fall Meeting. 1997年12月01日-1997年12月05日.NIMS著者河野 健一郎雨倉 宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:21:48 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:45:39 +0900