HOME > 口頭発表 > 書誌詳細スピン偏極－イオン散乱分光法(SP-ISS)によるCo2FeAl0.5Si0.5フルホイスラー合金表面の構造とスピン状態分析鈴木 拓, 介川 裕章, 猪俣 浩一郎. 第９回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2008年12月05日-2008年12月06日. 招待講演NIMS著者鈴木 拓介川 裕章Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:06:12 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:42:10 +0900
