HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛薄膜への硫黄のイオン注入と拡散に伴う損傷の回復(The recovery of damages induced by S implantation in ZnO thin film)坂口 勲, 朴 大出, 菱田 俊一, 大橋 直樹, 羽田 肇. 日本応用物理学会秋期大会. 2002年09月24日-2002年09月27日.NIMS著者坂口 勲大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:53:03 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:32:14 +0900