HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Current pathway in the electrical measurements of platinum silicide nanowires using double-scanning-probe microscope久保 理, Do Kyung Lim, 新ヶ谷 義隆, Sehun Kim, 青野 正和, 中山 知信. International Conference on Nano Sci. and Technol. (ICN+T2007). 2007.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:17:05 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:55:18 +0900