HOME > 口頭発表 > 書誌詳細プラズマ酸化過程におけるシリコン表面応力の研究(Surface Stress in Silicon Oxidelayer made by Plasma Oxidation with Applying Sample Bias)北島 正弘, 板倉 明子, 倉品貴之, 成島哲也, 倉品貴之, 成島哲也. AVS 45th Internaternational Symposlum. 1998年11月02日-1998年11月06日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:38:51 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:50:26 +0900