HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Siナノワイヤーの電気特性測定(Electrical Property Measurment of Si Nano-Wire)鈴木 裕, 荒木 弘, 土佐 正弘, 野田 哲二. 日本金属学会2006年度春期大会. 2006.NIMS著者鈴木 裕土佐 正弘Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:22:39 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:36:06 +0900