高周波走査型トンネル顕微鏡の作製と評価
(Calibration and manufacture of high frequency scanning tunneling microscopy)
第63回年次大会. 2008年03月22日-2008年03月26日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:05:56 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:10:24 +0900