HOME > Presentation > Detail高周波走査型トンネル顕微鏡の作製と評価(Calibration and manufacture of high frequency scanning tunneling microscopy)町田 理, ガイフーリン マラット, 平田 和人, 茂筑 高士, 坂田 英明. 第63回年次大会. March 22, 2008-March 26, 2008.NIMS author(s)MOCHIKU, TakashiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:05:56 +0900 Updated at: 2017-07-10 20:10:24 +0900