HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛基薄膜の電気特性に対する不純物の影響(Effect of impurity on electric property in ZnO film)両見 春樹, 坂口 勲, 大橋 直樹, 安達 裕, 菱田 俊一, 羽田 肇, 羽田肇. 日本セラミックス協会年会. 2006.NIMS著者坂口 勲大橋 直樹安達 裕菱田 俊一羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:28:36 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:35:30 +0900