HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛基薄膜の電気特性に対する不純物の影響(Effect of impurity on electric property in ZnO film)両見 春樹, 坂口 勲, 大橋 直樹, 安達 裕, 菱田 俊一, 羽田 肇, 羽田肇. 日本セラミックス協会年会. 2006年03月14日-2006年03月16日.NIMS著者坂口 勲大橋 直樹安達 裕菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:28:36 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:35:30 +0900