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Evaluation of Al2O3 /n-, p-GaN samples by photothermal deflection spectroscopy

著者FUKUDA, Kiyotaka, ASAI, Yuya, SANG, Liwen, 吉越章隆, 尾沼猛儀, 山口智広, 本田徹, SUMIYA, Masatomo.
会議名International workshop of nitride semiconductors 2018
発表年2018
言語English

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