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Evaluation of Al2O3 /n-, p-GaN samples by photothermal deflection spectroscopy

福田 清貴, 浅井 祐哉, SANG, Liwen, 吉越章隆, 尾沼猛儀, 山口智広, 本田徹, SUMIYA, Masatomo.
International workshop of nitride semiconductors 2018. 2018年11月11日-2018年11月16日.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2019-03-04 10:08:58 +0900 更新時刻: 2019-03-04 10:08:58 +0900

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