HOME > 口頭発表 > 書誌詳細MeV プロトン照射したSiにおける欠陥生成率の照射温度依存性(Irradiation Temperature Dependence of Defect Generation Rate in Mev-Proton Bombared Silicon)雨倉 宏, 岸本直樹, 河野 健一郎, 斎藤鉄哉, 岸本直樹, 斎藤鉄哉. 第42回応用物理学会. 1995年03月28日-1995年03月31日.NIMS著者雨倉 宏河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 00:56:40 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:32:14 +0900