HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ナノ物性を直接計測する多探針走査トンネル顕微鏡中山 知信, 久保 理, 新ヶ谷 義隆, 長谷川 剛, 青野 正和. 高分解能電子顕微鏡分科会研究会. 2004年02月20日-2004年02月21日. 招待講演NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:17:09 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:40:07 +0900
