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ナノ物性を直接計測する多探針走査トンネル顕微鏡

中山 知信, 久保 理, 新ヶ谷 義隆, 長谷川 剛, 青野 正和.
高分解能電子顕微鏡分科会研究会. 2004. Invited

NIMS author(s)

Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

    Created at: 2017-02-14 11:17:09 +0900Updated at: 2024-03-05 11:40:07 +0900

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