SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名渡邊智仁, 上殿明良, 石橋章司, X.Q.Wang, S.T.Liu, G.Chen, サン リウエン, 角谷 正友, B.Shen.
タイトル低速陽電子ビームを用いたInxGa1-xN混晶の空孔型欠陥の検出
会議名 第73回応用物理学会学術講演会
発表年2012
言語Japanese
外部での文献参照

▲ページトップへ移動