SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

低速陽電子ビームを用いたInxGa1-xN混晶の空孔型欠陥の検出

著者渡邊智仁, 上殿明良, 石橋章司, X.Q.Wang, S.T.Liu, G.Chen, サン リウエン, 角谷 正友, B.Shen.
会議名 第73回応用物理学会学術講演会
発表年2012
言語Japanese

▲ページトップへ移動