HOME > 口頭発表 > 書誌詳細低速陽電子ビームを用いたInxGa1-xN混晶の空孔型欠陥の検出渡邊智仁, 上殿明良, 石橋章司, X.Q.Wang, S.T.Liu, G.Chen, サン リウエン, 角谷 正友, B.Shen. 第73回応用物理学会学術講演会. 2012.NIMS著者サン リウエン角谷 正友Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:18:33 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:33:39 +0900
