SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > Presentation > Detail

低速陽電子ビームを用いたInxGa1-xN混晶の空孔型欠陥の検出

渡邊智仁, 上殿明良, 石橋章司, X.Q.Wang, S.T.Liu, G.Chen, サン リウエン, 角谷 正友, B.Shen.
第73回応用物理学会学術講演会. 2012.

NIMS author(s)

Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

    Created at: 2017-01-08 04:18:33 +0900Updated at: 2017-07-10 21:33:39 +0900

    ▲ Go to the top of this page