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NIMS一般公開2024

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Analytical Transmission Electron Microscope using a Transition Edge Sensor for X-ray Microanalysis.

原 徹, 田中啓一, 前畑京介, 満田和久, 山中良浩, 日高睦夫.
17th International Workshop on Low Temperature Detectors . 2017年07月17日-2017年07月21日. 招待講演

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    作成時刻: 2017-05-02 22:58:53 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:03 +0900

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