HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Analytical Transmission Electron Microscope using a Transition Edge Sensor for X-ray Microanalysis.原 徹, 田中啓一, 前畑京介, 満田和久, 山中良浩, 日高睦夫. 17th International Workshop on Low Temperature Detectors . 2017. 招待講演NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-05-02 22:58:53 +0900 更新時刻 :2024-03-05 12:20:03 +0900