Analytical Transmission Electron Microscope using a Transition Edge Sensor for X-ray Microanalysis.
17th International Workshop on Low Temperature Detectors . 2017年07月17日-2017年07月21日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-05-02 22:58:53 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:03 +0900