HOME > 口頭発表 > 書誌詳細TEM用マイクロカロリメータ型X線検出システムの開発原 徹, 渡邉 克晃, 田中 啓一, 前畑 京介, 満田 和久, 山崎典子, 大田繁正. 日本顕微鏡学会第65回学術講演会. 2009. 招待講演NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:42:38 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:42:24 +0900
