HOME > Presentation > DetailTEM用マイクロカロリメータ型X線検出システムの開発原 徹, 渡邉 克晃, 田中 啓一, 前畑 京介, 満田 和久, 山崎典子, 大田繁正. 日本顕微鏡学会第65回学術講演会. 2009. InvitedNIMS author(s)HARA, ToruFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:42:38 +0900Updated at: 2024-03-05 11:42:24 +0900