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著者名平原 徹, 長尾 忠昭, 松田巌, E. Chulkov, G. Bihlmayer, 斉藤峰雄, 長谷川修司.
タイトルSi(111)表面上Bi(001)超薄膜の光電子分光測定
会議名日本物理学会 2005年秋季大会
発表年2005
言語Japanese
外部での文献参照

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