HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si(111)表面上Bi(001)超薄膜の光電子分光測定平原 徹, 長尾 忠昭, 松田巌, E. Chulkov, G. Bihlmayer, 斉藤峰雄, 長谷川修司. 日本物理学会 2005年秋季大会. 2005.NIMS著者長尾 忠昭Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:52:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:22:48 +0900
