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Si(111)表面上Bi(001)超薄膜の光電子分光測定

平原 徹, 長尾 忠昭, 松田巌, E. Chulkov, G. Bihlmayer, 斉藤峰雄, 長谷川修司.
日本物理学会　2005年秋季大会. 2005.

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    Created at: 2017-01-08 03:52:12 +0900Updated at: 2017-07-10 19:22:48 +0900

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