Xeイオン照射によるSiTiO3双晶に生成した欠陥集合体の解析
(Characterization of defect clusters in SrTiO3 bi-crystals irradiated with Xe ions)
Ｈ18年度ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2006-10-27.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:16:01 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:45:51 +0900