その場電子顕微鏡法によるC60/C70ナノウィスカーのヤング率測定
(measurement of Young's modulus C60/C70 nanowhisker by in situ electron microscopy)
日本物理学会2014年秋季大会. 2014.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:59:43 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:56:52 +0900