HOME > Presentation > Detail
その場電子顕微鏡法によるC60/C70ナノウィスカーのヤング率測定
(measurement of Young's modulus C60/C70 nanowhisker by in situ electron microscopy)
日本物理学会2014年秋季大会. September 07, 2014-September 10, 2014.
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2017-01-08 03:59:43 +0900Updated at: 2017-07-10 21:56:52 +0900