HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Characterization and Management of Defects in Oxides)大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 和田 芳樹, ウィリアムズ ジェシー ロバート, 大垣 武, 羽田 肇. ICMAT2011. 2011年06月26日-2011年07月01日. 招待講演NIMS著者大橋 直樹坂口 勲安達 裕和田 芳樹大垣 武羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:45:07 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:31 +0900