HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si基板上に直接成長させたGeのTOF-SIMS測定(II)(TOF-SIMS measurement of Ge directly grown on Si substrate(II))河野 健一郎, 朴成鳳, 石川靖彦, 和田一実. 2014年 第75回応用物理学会秋季学術講演会. 2014年09月17日-2014年09月20日.NIMS著者河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:01:24 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:59:12 +0900