HOME > 口頭発表 > 書誌詳細粒子線照射によるSiの励起電気伝導と欠陥生成(Excited Conductivity and Defect Formation in Si Under Particle Irradiation)雨倉 宏, 岸本直樹, 河野 健一郎, 斎藤鉄哉, 岸本直樹, 斎藤鉄哉. 応用物理学会(第56回秋季). 1995年08月26日-1995年08月29日.NIMS著者雨倉 宏河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 00:58:54 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:33:22 +0900