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粒子線照射によるSiの励起電気伝導と欠陥生成
(Excited Conductivity and Defect Formation in Si Under Particle Irradiation)

雨倉 宏, 岸本直樹, 河野 健一郎, 斎藤鉄哉, 岸本直樹, 斎藤鉄哉.
応用物理学会(第56回秋季). 1995年08月26日-1995年08月29日.

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    作成時刻: 2017-02-18 00:58:54 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:33:22 +0900

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