HOME > 口頭発表 > 書誌詳細EBIC characterization of dislocation distribution in strained Si/SiGe袁 暁利, 関口 隆史, 李成奇, 伊藤俊. 日本学術振興会第145委員会第101回研究会. 2004. 招待講演NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:15:36 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:19 +0900
