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著者名袁 暁利, 関口 隆史, 李成奇, 伊藤俊.
タイトルEBIC characterization of dislocation distribution in strained Si/SiGe
会議名日本学術振興会第145委員会第101回研究会
発表年2004
言語Japanese
外部での文献参照

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