Spectromicroscopy analysis of interface dipole layers in 2D-material based field effect transistors
(原子層電界効果トランジスタにおける界面双極子の放射光X線顕微分光観測)
第30回日本MRS年次大会. 2020年12月09日-2020年12月11日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-01-12 03:00:39 +0900更新時刻: 2022-01-12 03:00:39 +0900