グラフェンにおける欠陥起因の電荷局在とそのエレクトロニクス応用
(Defect-Induced Localization of Carriers in Graphene and its Applications to Electronics)
The 5th International Conference on Recent Progress in Graphene . 2013.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 05:19:40 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:43:05 +0900