X 線回折における異常散乱現象を用いたZnO 薄膜の極性判定
(Polarity determination of ZnO films by x-ray diffraction using anomalous dispersion)
第26回日韓国際セラミックスセミナー. 2009年11月24日-2009年11月26日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:59:06 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:34:12 +0900