X 線回折における異常散乱現象を用いたZnO 薄膜の極性判定
(Polarity determination of ZnO films by x-ray diffraction using anomalous dispersion)
第26回日韓国際セラミックスセミナー. 2009.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:59:06 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:34:12 +0900