HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Sb-doped Mg2Si0.5Sn0.5の熱処理による微細構造及び熱電性質変化のTEM解析(Effect of annealing on microstructure and thermoelectric properties of Sb-doped Mg2Si0.5Sn0.5 studied with TEM)長谷川 明, リュウ ジウェイ, 竹口 雅樹, 辻井 直人, 磯田 幸宏. 日本顕微鏡学会第71回学術講演会. 2015.NIMS著者長谷川 明竹口 雅樹辻井 直人磯田 幸宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:19:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:06:32 +0900