HOME > 口頭発表 > 書誌詳細超伝導X線検出器を応用した超高精度分析電子顕微鏡(Superconducting x-ray detector for precise compositional analysis in STEM)原 徹. NIMS WEEK 2016. 2016.NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-19 04:37:00 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:34:20 +0900