HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Quantitative analyses by transmission electron microscopy and those applications to the grain boundary phenomena井 誠一郎, 土谷 浩一. International conference on Frontiers in Materials Processing,. 2015年06月12日-2015年06月15日. 招待講演NIMS著者井 誠一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:39:49 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:45:21 +0900