HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電流-電圧特性計測と表面増強ラマン計測による単分子接合の構造変化の追跡(The Analysis of Structure Change in Single Molecular Junction by Electronic and Surface Enhanced Raman Spectrum Measurement)小林 柊司, 金子 哲, 塚越 一仁, 西野 智昭. 第67回応用物理学会 春季学術講演会. 2020年03月12日-2020年03月15日.NIMS著者塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900更新時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900