HOME > 口頭発表 > 書誌詳細単層MoS2/サファイア界面のX線CTR散乱による構造解析(X-ray CTR Scattering Analysis of the Monolayer MoS2/Sapphire Interface Structure)白澤 徹郎, 長田 貴弘, 佐久間 芳樹. 2026年第87回 応用物理学会 秋季学術講演会. 2026年09月08日-2026年09月11日.NIMS著者長田 貴弘佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2026-10-15 04:53:58 +0900 更新時刻: 2026-10-15 04:53:58 +0900