Bias Dependent Electronic Structures under High-k Device Operation : Operando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
The Eleventh International Nanotechnology Conference on Communic. 2015年05月11日-2015年05月13日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:43:35 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:09:11 +0900