HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電気化学インピーダンス分光法によるn-Si/RbAg4I5界面の解析(Characterization of n-Si/RbAg4I5 Interfaces by Electrochemical Impedance Spectroscopy)太田 鳴海, 高田 和典, 佐々木 高義, 渡辺遵. 204th Meeting of The Electrochemical Society. 2003年10月12日-2003年10月17日.NIMS著者高田 和典Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 03:30:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:45:57 +0900