収束電子回折法を用いたAlNの極性決定評価
(Analysis of Broken Symmetry in Convergent-Beam Electron Diffraction along <1120> and <1100> Zone-Axes of AlN for Polarity Determination)
International Workshop on Nitride Semiconductors 2012. 2012年10月14日-2012年10月19日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:45:07 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:23:44 +0900