HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Nanofabrication with intense and focused electron beam and ultra-high vacuum Cs corrected STEM古屋 一夫, 三石 和貴, 竹口 雅樹. JEOL High-End Transmission Electron Microscopy Seminar. 2008. 招待講演NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:57 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:56 +0900