HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電気化学現象によって生じる金属酸化膜中の抵抗スイッチ(Resistive Switching of metal oxide thin films realized by the electrochemical behavior)寺部 一弥, 坂口 勲, 鶴岡 徹, 阪本利司, 長谷川 剛. 17th Conference on Solid State Ionics. 2009.NIMS著者寺部 一弥坂口 勲鶴岡 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:49:17 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:30:01 +0900