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Application of Scanning Confocal Electron Microscopy in Semiconductor Materials

P.Wang, A.I. Kirkland, P.D. Nellist, A.J. D’Alfonso, A.J. Morgan, L.J. Allen, 橋本 綾子, 竹口 雅樹, 三石 和貴, 下条 雅幸.
18th Microscopy of Semi-Conducting Materials (MSM XVIII). 2013.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2017-01-08 04:01:13 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:34:01 +0900

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